|
|
本文PDFファイルを閲覧するには,ログインする必要があります.
左メニューよりログインして下さい.
|
シングルダマシンCu配線におけるパルス電流下のエレクトロマイグレーション挙動
横川 慎二
誌名
電子情報通信学会論文誌 C
Vol.J88-C
No.4
pp.253-260 発行日: 2005/04/01 Online ISSN:
DOI: Print ISSN: 1345-2827 論文種別: 論文 専門分野: 電子部品 キーワード: エレクトロマイグレーション, シングルダマシンCu配線, パルス電流, effective incubation time, ドリフト速度,
本文: PDF(334.5KB)>>
あらまし:
シングルダマシンCu配線において,パルス電流下のエレクトロマイグレーション挙動を調査した.パルス電流のもとでは,10 μsの時定数をもつ,ダメージ緩和現象が観測された.これにより,ドリフト速度の減少,及びeffective incubation timeの増加が発生する.エレクトロマイグレーション誘起応力こう配によるバックフロー効果は,電流波形によらず一定である.また,ドリフト速度の活性化エネルギーも約0.89 eVで一定である.
|
|
|
|