イメージセンサに対する統計型エラーモデルとそのテスト手法について

市原 英行  口井 敏匡  山達 正明  坂口 英明  植村 博  樹下 行三  

誌名
電子情報通信学会論文誌 D   Vol.J89-D   No.8   pp.1663-1672
発行日: 2006/08/01
Online ISSN: 1881-0225
DOI: 
Print ISSN: 1880-4535
論文種別: 特集論文 (ディペンダブルコンピューティング論文特集)
専門分野: 半導体テスト
キーワード: 
イメージセンサデバイス,  撮像,  エラーモデル,  統計値,  外れ値,  

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あらまし: 
イメージセンサデバイスから得られる撮像のテストは,目視によるものや多くの画像処理を必要とするものが主流であるため,デバイスサイズ増加に伴うテストコストの増加が問題となっている.テストコストを削減するためにいくつかの自動化手法が提案されているが,撮像のエラー判定は経験に基づいて定性的に行われるため,判定に必要なパラメータ設定には試行錯誤が必要となる.本論文では,イメージセンサデバイスの撮像に対して少ないパラメータで定量的に定まるエラーモデルを提案する.これによりあいまいであったエラーモデルが一意に決まることになり,撮像のテストが比較的容易に行える.また,提案したエラーモデルは,個々の撮像の輝度値に基づいて統計的に定義されるため,イメージセンサデバイスに個体差があっても,その個体差による影響を受けない.実験結果は,提案したエラーモデルに基づく撮像テストが,経験をもったテスト技術者による目視試験に近い判定能力をもつことを示している.