並列Generalized-LFSRを用いた自己組込みテスト

東 裕貴  範 公可  

誌名
電子情報通信学会論文誌 A   Vol.J87-A   No.9   pp.1252-1253
発行日: 2004/09/01
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Print ISSN: 0913-5707
論文種別: レター
専門分野: 
キーワード: 
自己組込みテスト,  BIST,  テスト発生回路,  LFSR,  GLFSR,  

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あらまし: 
本論文では,自己組込みテスト(Built-In Self-Test:BIST)のテスト発生回路(Test Pattern Generator:TPG)に並列汎用線形フィードバックシフトレジスタ(Parallel Generalized Linear Feedback Shift Register:並列GLFSR)を提案する.従来のTPGであるLFSR,GLFSRと並列GLFSRをISCAS'85ベンチマーク回路に適用した場合のテスト数をそれぞれ比較する.提案したTPGが故障検出率95%を超える場合のテスト数がより少ないという結果から,BISTのTPGとして有効であると考察する.