不連続再収斂順序回路の遅延故障に対するテスト生成法

岩垣 剛  大竹 哲史  藤原 秀雄  

誌名
電子情報通信学会論文誌 D   Vol.J86-D1   No.12   pp.872-883
発行日: 2003/12/01
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Print ISSN: 0915-1915
論文種別: 論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
遅延故障,  テスト生成,  不連続再収斂構造,  時間展開モデル,  部分拡張スキャン設計,  

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あらまし: 
本論文では,遅延故障に対してテスト生成が容易な順序回路の構造として,不連続再収斂構造を定義し,不連続再収斂順序回路の遅延故障に対するテスト生成問題が,その時間展開モデルの遅延故障に対するテスト生成問題に帰着できることを示す.これに基づき,不連続再収斂順序回路の遅延故障に対するテスト生成法を提案する.提案手法は,2パターンテストでテストできる遅延故障のモデル(パス遅延故障,セグメント遅延故障,トランジション故障など)に対して適用できる.また,本論文では,一般の順序回路に対して提案手法を適用するために,不連続再収斂構造に基づく部分拡張スキャン設計を行う.最後に提案手法をベンチマーク回路に適用し,本手法がハードウェアオーバヘッド,テスト生成時間,故障検出効率の点で有効であることを示す.