マイクロ波帯のシールドボックス性能測定法

三浦　健史  西堀　俊幸  稲谷　順司  瀬田　益道  真鍋　武嗣  

誌名
電子情報通信学会論文誌 B   Vol.J86-B   No.7   pp.1081-1088
発行日: 2003/07/01
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Print ISSN: 1344-4697
論文種別: 特集論文 (最新のEMC技術論文特集)
専門分野: EMC計測
キーワード: 
マイクロ波,  シールドボックス,  シールド性能測定,  マルチパス干渉,  

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あらまし: 
電子機器や通信機器の高周波化に伴い，マイクロ波帯でのEMC測定規格が作成されつつあるが，シールドボックスのシールド性能測定技術についてはあまり論じられていない．一方，システムのEMC設計ではシールドボックスに対してシールド性能を配分する必要が生じるため，その測定法が重要となる．本論文ではマイクロ波帯のシールドボックス性能測定法について議論する．シールド性能はシールドボックスの有無による電界強度差で定義できる．ボックス内部の電磁界分布は，複数の電波漏えい箇所からの信号をソースとし，内部で多重反射を起こした結果として，マルチパス干渉が現れる．その結果，受信アンテナを内部に固定して，内部信号のピーク値を検出するのは難しい．ピーク値の検出ができない場合は，内部信号レベルを過小評価し，シールド性能を過剰に見積もるおそれがある．そこで，アンテナ位置を固定したまま周波数掃引することでピーク値の測定を可能にした．実際にマイクロ波発生器及びスペクトラムアナライザ，低雑音増幅器でシステムを構成し，1～20 GHzで80 dB程度のシールド性能測定が可能なことを実証した．