ATPGベクトルを利用したBIST用テストパターン発生回路

浅川 毅  岩崎 一彦  

誌名
電子情報通信学会論文誌 D   Vol.J83-D1   No.3   pp.360-367
発行日: 2000/03/25
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Print ISSN: 0915-1915
論文種別: 論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
TPG,  分割シフト,  ランダムパターン検出困難故障,  ATPGベクトル,  実動作速度テスト,  

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あらまし: 
擬似ランダムパターンテストの欠点を補う一つの手法として,短いテスト長で縮退故障を100%検出することを 目的とするBIST用テストパターン発生回路(TPG)を提案する.提案する手法はATPGベクトル集合をもとにし,それらを分割シフトすることにより擬似ランダムベクトルとATPGベクトルの混在するテストパターンを発生する.ランダムパターン検出困難故障をATPGベクトルによって検出するので,短いテスト長で縮退故障を100%検出することができる.提案手法によるTPG構成,テストパターンの発生手順,並びにビットシフトのもととなるベクトル集合の選択手順について述べる.提案手法をISCASベンチマーク回路に適用した場合の テスト長とハードウェアオーバヘッドを評価し,本手法の有効性を考察する.