a-Si TFTのフリッカノイズ測定とモデリング

青木 均  

誌名
電子情報通信学会論文誌 C   Vol.J82-C2   No.5   pp.284-285
発行日: 1999/05/25
Online ISSN: 
DOI: 
Print ISSN: 0915-1907
論文種別: レター論文
専門分野: 
キーワード: 
フリッカノイズ,  モデリング,  a-Si TFT,  1/f noise,  測定,  

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あらまし: 
本論文では,a-Si TFT単体のフリッカノイズ,熱雑音のモデル化を行い,測定結 果を使ってそのモデルパラメータを抽出し,測定データとシミュレーションデータを 比較検討する.作成したモデルは,MOSFET, JFETのモデルをもとに開発しSPICEに搭載 した.