a-Si TFTのフリッカノイズ測定とモデリング

青木　均  

誌名
電子情報通信学会論文誌 C   Vol.J82-C1   No.5   pp.276-277
発行日: 1999/05/25
Online ISSN: 
DOI: 
Print ISSN: 0915-1893
論文種別: レター論文
専門分野: 
キーワード: 
フリッカノイズ,  モデリング,  a-Si TFT,  1/f noise,  測定,  

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あらまし: 
本論文では，a-Si TFT単体のフリッカノイズ，熱雑音のモデル化を行い，測定結 果を使ってそのモデルパラメータを抽出し，測定データとシミュレーションデータを 比較検討する．作成したモデルは，MOSFET, JFETのモデルをもとに開発しSPICEに搭載 した．