ICのRFノイズイミュニティ評価法の検討

服部 佳晋  只野 博  長瀬 宏  

誌名
電子情報通信学会論文誌 B   Vol.J81-B2   No.2   pp.179-182
発行日: 1998/02/25
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Print ISSN: 0915-1877
論文種別: レター
専門分野: 
キーワード: 
IC,  電波,  TEMセル,  混入経路,  RF (Radio frequency),  注入,  

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あらまし: 
高周波電波によるIC誤動作の解析手法を検討するため,TEMセル試験を用い,ICの誤動作を引き起こす電波混入経路を調べた.その結果,今回の場合,主にICに接続された配線からの混入により,誤動作が引き起こされていることを明らかにした.またICの各端子からRF信号を注入する試験法を用い,ICの誤動作に最も影響を与えている電波混入端子を明らかにした.