AM-SCM光伝送システムにおける光マルチパスに起因する混変調ひずみ

山本 浩明  田辺 学  内海 邦昭  藤戸 克行  

誌名
電子情報通信学会論文誌 B   Vol.J81-B1   No.4   pp.273-281
発行日: 1998/04/25
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Print ISSN: 0915-1885
論文種別: 論文
専門分野: 通信計測
キーワード: 
副搬送波多重,  光伝送,  相互変調ひずみ,  混変調ひずみ,  マルチパス,  

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あらまし: 
それぞれAM変調した複数の映像信号をサブキャリヤ多重(SCM)し一括して光伝送するAM-SCM光伝送システムにおいて,混変調ひずみ(XMD)は,CSOやCTBと同様に画質に影響を与える重要なファクタの一つである.筆者らは,実際の映像信号の画質とそのときのXMDの測定値の関係を詳細に比較検討したところ,画質に比べXMDの測定値が著しく劣化する場合があることを確認した.このXMDの測定値の過剰な劣化が,光伝送路上のマルチパスとXMDを測定する際の測定信号波形の二つの要因による複合現象で起きることを理論および実験で初めて検証した.測定上の過剰なXMDの劣化をおさえ,実際の運用形態に即した測定を行うためのXMDの測定方法を提示し,その場合のXMDの解析と実験結果を示した.