Quasi-Delay-Insensitive論理回路の縮退故障テスト

アーティット トンタック  南谷 崇  

誌名
電子情報通信学会論文誌 D   Vol.J80-D1   No.2   pp.146-154
発行日: 1997/02/25
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Print ISSN: 0915-1915
論文種別: 論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
quasi-delay-insensitive論理回路,  縮退故障,  テスト,  論理シミュレーション,  

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あらまし: 
Quasi-Delay-Insensitive論理回路の信号線の単一縮退故障には,信号遷移を停止させず暴走遷移を発生させる故障がある.本論文では,このような縮退故障を検出する場合の問題点を明らかにすると共に,テスト系列の生成手法を提案する.この手法では,動作仕様に指定される状態遷移系列の中から,故障素子の励起状態を探索し,その励起状態に対する安定条件を8値の論理シミュレーションで確認した結果を用いてテスト系列を生成する.また,検出不能な故障に対し,論理シミュレーションで生成された状態遷移系列から,制御・観測に必要な信号を特定してテスト端子を付加する方法を示す.更に,ベンチマーク回路に対するテスト生成の実験結果によってその有効性を示す.