冗長化WSIシステムの歩留り評価指標

苫米地 宣裕  

誌名
電子情報通信学会論文誌 D   Vol.J78-D1   No.3   pp.383-392
発行日: 1995/03/25
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Print ISSN: 0915-1915
論文種別: 論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
WSI,  冗長化,  歩留り,  評価指標,  チップ拡大率,  

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あらまし: 
WSIの実現のためには,冗長構成の導入による欠陥救済と歩留り向上が不可欠と言われている.本論文では,冗長化の効果を端的に表現する一つの指標を提案している.まず,冗長化を導入したWSIの歩留り解析を行い,その結果,「初期LSIの歩留りが1/2の場合,この値を低下させることなく有効なチップ面積を何倍に拡大できるかという倍率」が欠陥分布の形態によらずに一意に定まることを見出している.この倍率を「基準チップ拡大率」と呼び,冗長化の効果を表す評価指標として提案している.基準チップ拡大率は,次のような理由により,システム設計者にとって有用な指標と考えられる.欠陥分布形態,すなわち,製造条件に依存しない.WSIの冗長システム設計においては,有効なチップ面積をどれだけ拡大できるかという値が有用と考えられる.本論文では,また,基準チップ拡大率,および,初期LSIの歩留りが1/2とならない一般の場合のチップ拡大率を容易に計算できる式を導いている.