液晶セルの透過率変動測定による残像現象解析

佐々木 亨  津村 誠  長江 慶治  鈴木 雅彦  岩田 敏郎  

誌名
電子情報通信学会論文誌 C   Vol.J77-C2   No.9   pp.392-398
発行日: 1994/09/25
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DOI: 
Print ISSN: 0915-1907
論文種別: 論文
専門分野: 電子ディスプレイ
キーワード: 
液晶ディスプレイ,  表示画質,  残像,  焼きつき,  残留直流電圧,  透過率時間変化,  

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あらまし: 
各画素に薄膜トランジスタ(TFT)を備え液晶セルをアクティブマトリクス駆動する液晶ディスプレイ(TFT-LCD)の残像現象を,液晶セルへの直流電圧印加による透過率の時間変化としてモデル化した.液晶の電気光学特性を利用して,残像現象の原因である残留直流電圧の時間変化から透過率の時間変化を求める方法を提案した.本方法により残留直流電圧の時間変化の測定結果から計算した透過率の時間変化は,透過率の時間変化を直接測定した結果と定量的に一致した.従って,本方法は液晶セルにおける残像現象の解析に有効である.