磁気シールドルームの遮へい性能の評価方法について―有限要素を用いた磁界解析シミュレーションによる検討―

石川 登  葛西 直子  賀戸 久  小柳 正男  樋口 正法  

誌名
電子情報通信学会論文誌 A   Vol.J76-A   No.5   pp.759-770
発行日: 1993/05/25
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Print ISSN: 0913-5707
論文種別: 論文
専門分野: 測定・計測
キーワード: 
磁気シールドルーム,  遮へい率,  有限要素法,  磁界解析,  円形電流,  

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あらまし: 
従来の方法が適用できない立方体形状の大型磁気シールドルームの遮へい性能を評価する方法を有限要素法を用いた磁界解析により検討した.一様磁界ならびに一つの円形コイルに電流を流して発生させた磁界(単一コイル磁界)ヘルホルツコイル状に1組の円形コイルに電流を流して発生させた磁界(対コイル磁界)に対する磁気シールドルームの遮へい率を求めた.その結果,磁気シールドルーム内の遮へい率は外部の磁界の分布の状態と磁気シールドルーム内の位置に依存して変化する.一様磁界に対する中心部の遮へい率は,円形コイルによる磁界に対する磁気シールドルームの中心部の遮へい率よりも低くなることがわかった.磁気シールドルームの中心部における円形電流による磁界に対する遮へい率と一様磁界に対する遮へい率との比を表す近似式を円形コイルの半径とその設置位置の関数として導いた.遮へい率を求める実際的な方法として,円形コイルによる磁界を用いて遮へい率を測定し,得られた近似式を用いて遮へい性能の規準とされる一様磁界に対する遮へい率に変換することによって,立方体形状の磁気シールドルームの遮へい性能を評価する方法を提案する.