実数値シミュレーションを利用した順序回路テスト生成

彦根 和文  池田 光二  畠山 一実  林 照峯  

誌名
電子情報通信学会論文誌 D   Vol.J75-D1   No.11   pp.1089-1098
発行日: 1992/11/25
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Print ISSN: 0915-1915
論文種別: 論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
順序回路,  テストパターン,  テスト生成,  シミュレーション,  最適化手法,  

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あらまし: 
同期式順序回路中の単一縮退故障を検出するために必要なテストパターン系列を最適化手法を用いて生成する方法について提案する.この手法は,実数値を用いた回路シミュレーションの結果から,入力パターンの故障に対するコスト関数を定義し,コスト減少方向に入力パターン変更を繰り返すことによりテストパターンを導く方法に基づいている.一般に順序回路では,回路状態を設定する必要があるため,テスト入力は複数時刻にわたるパターン系列となる.そのため,本手法ではテストパターン系列全体の導出方法として,時間軸前方向に順次テストパターン系列を生成していく処理を導入する.このとき,回路状態が局所的最適状態に陥ることを防ぐため,複数時刻にわたるパターン系列単位に収束計算処理を行い,パターン系列を生成している.本手法をISCAS '89ベンチマーク順序回路により評価した結果,実用時間内に高い故障検出率が得られ,本手法が順序回路のテストパターン系列生成に有効であることが確認できた.