VLSIメモリの評価用試験プログラム構造およびその適用

浜田 光洋
西村 安正
多田 哲生

誌名
電子情報通信学会論文誌 C   Vol.J74-C2    No.11    pp.755-762
発行日: 1991/11/25
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Print ISSN: 0915-1907
論文種別: 論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
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あらまし: 
VLSIメモリは,大容量化,高速化と共に,その多様化が図られている.この多様化に対し,評価用試験プログラムも,それぞれのVLSIメモリに対応する必要があり,その作成の効率化が重要な課題となっている.本論文では,多様化するVLSIメモリの評価に対し,半導体試験装置,特にメモリテスタで使用する評価用試験プログラムを迅速に作成できるプログラム構造について述べる.本試験プログラムは,評価用ユーティリティ群,メインプログラム,および各VLSIメモリに固有の試験条件を記述したサブルーチンプログラムに分離したモジュール構造を採用し,必要最小限のプログラミングにより,種々のVLSIメモリの評価に対応できるものである.16種のVLSIメモリの評価用試験プログラムに本プログラム構造を適用した結果,すべてのVLSIメモリにおいて,プログラム開発時間が従来手法の5分の1に短縮され,評価時間も1時間程度低減できることを確認した.