スペックル画像法による変位計測―液晶ディスプレイの利用による実時間的測定法―

岡田 英史  福岡 豊  梅谷 順  中条 義隆  南谷 晴之  

誌名
電子情報通信学会論文誌 C   Vol.J73-C1   No.3   pp.128-133
発行日: 1990/03/25
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Print ISSN: 0915-1893
論文種別: 論文
専門分野: 光エレクトロニクス
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あらまし: 
レーザを物体に照射したときに観測されるスペックルは対象の変位に対応してパターンが変化するため,スペックルパターンの空間的変化を検出して対象の変位を定量化することが可能である.従来,これらのスペックル応用計測の多くは写真技術に立脚するものであったが,近年,光電撮象技術および画像処理技術を利用することによる測定の実時間化の試みもなされてきている.本研究では,スペックル応用計測の一手法であるスペックル写真法における写真ネガ(スペックルグラム)の代わりに,液晶ディスプレイを用いて構成した電子的スペックルグラムを使用し,実時間的に変位測定を行うスペックル画像法の提案を行う.基礎実験から電子的スペックルグラムを使用した測定においても,写真ネガを使用したスペックルグラムと同様に変位測定が行えることを確認した.更に,スペックルグラムを液晶ディスプレイで構成したことによって生じる測定の制約条件,測定精度についても検討を行った.