パワーリードスイッチの接点現象と開閉寿命

藤原 一志  

誌名
電子情報通信学会論文誌 C   Vol.J71-C   No.1   pp.32-39
公開日: 1988/01/25
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Print ISSN: 0373-6113
論文種別: 論文
専門分野: 部品
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あらまし: 
マイクロプロセッサと外部パワー機器をインタフェースする入出力リレー・検出スイッチ・指令スイッチは,信号とパワーの境界領域製品であり,技術革新への対応が遅れている.そこで,使用・環境条件が特に厳しい工業分野に的を絞り,高い信頼性を発揮することができるパワーリードスイッチに着目して,接点現象と開閉寿命との関係について実験・検討を行った.小電流域では,接点開離直後に発生する間欠アークによって形成される,シャープな形の小移転生成物が接点障害を引き起こし,また,大電流域では,アーク放電からグロー放電への移行が早期に起こり,その陰極スパッタリングが接点消耗を支配することが明らかとなった.それらの解析結果を基にして,ハンマリング作用とMo・AgCdOの組合せ接点をもつ新形パワーリードを開発することができ,従来のリードスイッチや空気中接点に対して10倍以上の開閉寿命が得られることが確認された.