LSI自己検査用シグナチャ回路の誤り検出率の解析と新回路方式の提案

岩崎 一彦  山口 昇  萩原 吉宗  

誌名
電子情報通信学会論文誌 D   Vol.J68-D   No.5   pp.1063-1070
発行日: 1985/05/25
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Print ISSN: 0913-5713
論文種別: 論文
専門分野: 計算機システム・構成要素
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あらまし: 
論理LSIの検査手法として,多入力線形フィードバックシフトレジスタ(MISR:Multiple Input Signature Register)を用いた自己テスト法が,現在までに提案されている.本稿では,MISRをパターン圧縮回路として用いた場合の誤り検出能力について論理的に解析する.解析にあたっては,符号理論の手法を応用した.まず,MISRに用いる多項式として,ハミング符号生成多項式(原始多項式)を選んだ場合の1~4重誤り検出率について理論的に求める.次に,修正ハミング符号生成多項式を選んだ場合の1~4重誤り検出率を計算する.その結果,多重誤り検出率,特に2重誤り検出率が100%にならないという問題点を明らかにする.そこで,多重誤り検出率を向上させるため,シフト方向が互いに逆の2個のMISRを用いる方式―逆2重化MISR―を提案する.逆2重化MISRに用いる多項式としてハミング符号生成多項式を選んだ場合,単一,2重誤りをすべて検出することを示し,3重誤り検出率を計算する.また,修正ハミング符号生成多項式を用いた場合は,1~3重誤りをすべて検出することを示す.