TMR方式による不良メモリの救済方法

武藤 佳恭  足立 佳彦  相磯 秀夫  

誌名
電子情報通信学会論文誌 D   Vol.J65-D   No.1   pp.119-125
発行日: 1982/01/25
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Print ISSN: 0913-5713
論文種別: 論文
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あらまし: 
メモリチップの高集積度化に伴いチップの歩留りが下がる傾向にあり,現在このチップの歩留りは大きな問題となっている.例えば64KダイナミックRAMの場合,その歩留りは10%以下という説もあり,残りの90%近くのチップは故障チップとみなされて捨てられてしまう.本論文では,このように捨てられる故障チップを利用することによって正常チップを作り上げ,見掛け上歩留りを改善する手法を提案し,その歩留り改善と故障チップメモリシステムの信頼性に関して議論する.本手法を用いると10%の歩留りが40%に改善でき,しかもその故障チップメモリシステムの信頼性は1個の正常メモリチップの信頼性よりも実用上劣らない.既に故障した16K RAMを用いてメモリシステムに実装し,その有用性を確認した.