二次元CCDを用いた光強度分布直視装置

長嶋 祐二  高田 亙  長嶋 秀世  

誌名
電子情報通信学会論文誌 C   Vol.J65-C   No.6   pp.483-489
公開日: 1982/06/25
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Print ISSN: 0373-6113
論文種別: 論文
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あらまし: 
光強度分布の測定には,写真測定法やスリット掃引法などが知られているが,これらの方法では瞬時に測定が不可能なことや,応答速度の遅れなどに問題点があった.本論文では,従来の光強度分布測定装置の性能を改善する目的で,受光素子に電荷結合形デバイスCCDを用い,測定データ処理にマイクロコンピュータ,図形解析および立体図形出力にミニコンピュータを用いた光強度分布直視システムを試作し実験,検討を行った.He-Neレーザを光源として試作装置により測定を行った結果,基本モードの理論値と実測値が良く一致し,光強度分布の3次元表示を可能とした.また,応答速度も1μs以下と改善された.なお,試作装置では図形処理機能をオフラインで行っているが,これをオンライン化することにより,実時間による測定データの図形処理及び解析が可能となり,伝送媒体のモード解析などに有効な手段となるであろう.