利得閉込形ダブルへテロ接合半導体レーザ発振特性の解析

矢野 光博  関 浩一  神谷 武志  柳井 久義  

誌名
電子情報通信学会論文誌 C   Vol.J61-C   No.11   pp.682-689
公開日: 1978/11/25
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Print ISSN: 0373-6113
論文種別: 論文
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あらまし: 
利得閉込形半導体レーザについて,キャリヤ密度および光子密度の横方向分布とキャリヤの横方向拡散を考慮した,ほぼ解析的な近似的取扱法を提案し,これを定常状態について解き,同一ウエハより作られたストライプ幅の異なる試料の実測結果と比較検討した.その結果,主要な定常発振特性であるしきい値電流密度,横モード幅,電流密度(ないし電流)対光出力特性のストライプ幅依存性については実測結果を定量的にもほぼ説明できることが明らかとなった.又,以上の発振特性の拡散長依存性を計算し,キャリヤ密度の横方向拡散の効果についても検討した.