LFI検知回路に対するサイドチャネル攻撃耐性評価

羽田野 凌太
平田 遼
松田 航平
三浦 典之
李 陽
崎山 一男

誌名
電子情報通信学会論文誌 A   Vol.J104-A    No.5    pp.118-126
発行日: 2021/05/01
早期公開日: 2020/12/28
Online ISSN: 1881-0195
DOI: 10.14923/transfunj.2020JAP1023
論文種別: 論文
専門分野: 情報セキュリティ基礎
キーワード: 
サイドチャネル攻撃,  AES暗号,  相関解析,  LFI攻撃,  BBICS,  

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あらまし: 
暗号ハードウェアの安全な運用に対し,フォールト解析は脅威となっている.フォールト解析は,暗号ハードウェアに物理的攻撃を行うことで暗号化計算に一時的な故障を注入し,秘密鍵の情報を取得する攻撃である.故障注入方法として,時間と空間を操作できることからレーザーフォールトインジェクション攻撃が特に強力である.その対策として,レーザー照射を検知するセンサーを統合したAdvanced Encryption Standard暗号チップが提案された.先行研究では,センサーがレーザー照射を検知した際に発するアラーム信号を用いて,相関解析を行い,鍵復元に成功している.本論文では,レーザーフォールトインジェクション攻撃対策が施されたチップのサイドチャネル攻撃耐性の評価を行う.実験では故障感度解析を行い,鍵復元を試みる.また,チップに潜在する脆弱性の原因を明らかにし,対策を提案する.最後に,レーザーフォールトインジェクション攻撃検知回路技術の特徴をまとめ,それぞれの耐性と脆弱性を示す.