キーワード : LSI製造検査


システムオンチップLSIの効率的なコアテスティングのためのコア間ベクトルオーバラッピング法の提案
篠木 剛 山田 裕貴 林 照峯 吉川 大弘 鶴岡 信治 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2004/06/01
Vol. J87-D1  No. 6 ; pp. 702-711
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
テストベクトルオーバラッピング並列コアテスティング重ねベクトル列システムオンチップテストLSI製造検査
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