キーワード : LPテスト


2種類のLPテストを併用した区分的線形回路の全解探索法
山村 清隆 金子 隆児 蓬田 幸二 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 A
発行日: 2000/10/25
Vol. J83-A  No. 10 ; pp. 1223-1226
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
区分的線形回路回路解析全解探索線形計画法LPテスト
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