キーワード : IDDQテスト


基板電圧バックバイアス状態での低電圧テストにおける短絡欠陥検出能力の評価
佐藤 康夫 河野 正樹 池田 聡雄 山崎 巌 浜本 正人 岩崎 一彦 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2005/06/01
Vol. J88-D1  No. 6 ; pp. 1047-1056
論文種別:  特集論文 (LSIのテスト・診断技術論文小特集)
専門分野: テスト手法
キーワード: 
IDDQテストWLVテストVLVテスト欠陥ベーステスト短絡欠陥
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マイクロIDDQ テストのための電流測定デバイス
野瀬 浩一 桜井 貴康 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2000/06/25
Vol. J83-C  No. 6 ; pp. 516-522
論文種別:  特集論文 (低電力LSI論文小特集)
専門分野: 
キーワード: 
IDDQテストホール効果電流センサ低消費電力
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テスト数制限下でのテスト入力集合の選択手法について
市原 英行 梶原 誠司 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7 ; pp. 861-868
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト生成および圧縮
キーワード: 
テスト生成テスト圧縮故障検出率IDDQテスト
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順序回路のブリッジ故障に対するIDDQテストのための静的なテスト系列圧縮法
樋上 喜信 Kewal K. Saluja 高松 雄三 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7 ; pp. 879-887
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト生成および圧縮
キーワード: 
IDDQテスト順序回路テスト系列圧縮ブリッジ故障
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IDDQテストを対象としたテスト系列の圧縮法
前田 敏行 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7 ; pp. 958-961
論文種別:  特集レター (テストと設計検証論文特集)
専門分野: 
キーワード: 
IDDQテストテスト圧縮順序回路
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電流テストによるバイポーラ組合せ論理回路のブリッジ故障検出のための検査容易化設計法
橋爪 正樹 矢野 武志 口井 敏匡 為貞 建臣 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12 ; pp. 1092-1104
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 電流テスト
キーワード: 
電流テストブリッジ故障検査容易化設計組合せ論理回路IDDQテスト
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