キーワード : BIST


二重積分器を用いたD-A変換器用BIST回路
松本 振弥 小林 俊雄 松谷 康之 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2007/11/01
Vol. J90-C  No. 11 ; pp. 818-820
論文種別:  ショートノート
専門分野: 
キーワード: 
アナログ回路正弦波発振器BIST
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BAST:BIST Aided Scan Test―テストコスト削減のための新しい手法―
相京 隆 平出 貴久 江守 道明 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2005/06/01
Vol. J88-D1  No. 6 ; pp. 1012-1020
論文種別:  特集論文 (LSIのテスト・診断技術論文小特集)
専門分野: テスト圧縮
キーワード: 
ATPGBISTテストコスト削減故障検出率
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並列Generalized-LFSRを用いた自己組込みテスト
東 裕貴 範 公可 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 A
発行日: 2004/09/01
Vol. J87-A  No. 9 ; pp. 1252-1253
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
自己組込みテストBISTテスト発生回路LFSRGLFSR
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テストポイントとフェーズシフタを用いたBISTによるクロストーク故障検査
清水 和也 白井 孝典 板崎 徳禎 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2002/05/01
Vol. J85-D1  No. 5 ; pp. 453-464
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
クロストーク故障BISTLFSRテストポイントフェーズシフタ
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ディジタルVLSIにおけるクロストーク故障に対する組込み自己検査手法
清水 和也 板崎 徳禎 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2001/03/01
Vol. J84-D1  No. 3 ; pp. 257-268
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
クロストーク故障組込み自己検査手法BIST
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トランジション故障を検出するBIST指向テストパターン発生回路
浅川 毅 岩崎 一彦 梶原 誠司 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2001/02/01
Vol. J84-D1  No. 2 ; pp. 165-172
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
BISTトランジション故障ランダムパターン検出困難故障ATPGベクトル実動作速度テスト
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BIST向け検査点挿入方式における遅延・面積オーバヘッドの低減
中尾 教伸 小林 誠治 畠山 一実 飯島 一彦 寺田 聖二 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7 ; pp. 852-860
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト容易化設計
キーワード: 
検査点BISTテスタビリティ最適化反復改善法
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遺伝的アルゴリズムを用いた組込み型多重重み付けランダムテストの最適化手法
横山 洋之 玉本 英夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12 ; pp. 1083-1091
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: ランダムテスト
キーワード: 
重み付けランダムテスト疑似ランダムテストBIST遺伝的アルゴリズム
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大規模LSIの演算ユニット向きBuilt-In Self-Test構成法
池永 剛 高橋 淳一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1994/10/25
Vol. J77-C2  No. 10 ; pp. 419-427
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
テスト容易化設計BIST演算ユニット故障検出率故障マスク率
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