キーワード : ATE


低消費電力基板型再構成テスタの開発
佐藤 正幸 大塚 信行 武藤 治 新井 雅之 福本 聡 岩崎 一彦 上原 孝二 志水 勲 間明田 治佳 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2005/06/01
Vol. J88-D1  No. 6 ; pp. 1065-1075
論文種別:  特集論文 (LSIのテスト・診断技術論文小特集)
専門分野: テスタ開発
キーワード: 
VLSIテストATE再構成可能テスタ基板型テスタ低消費電力テスタ
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