キーワード : 遅延故障


差分によるVLSI回路の遅延測定
田辺 融 加藤 健太郎 難波 一輝 伊藤 秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2010/04/01
Vol. J93-D  No. 4 ; pp. 460-468
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
VLSI遅延故障テスト微小遅延欠陥測定
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擬似ランダム論理BISTにおけるテストパターン品質の評価
佐藤 康夫 中尾 教伸 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2004/01/01
Vol. J87-D1  No. 1 ; pp. 35-41
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
論理BIST短絡故障開放故障遅延故障
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不連続再収斂順序回路の遅延故障に対するテスト生成法
岩垣 剛 大竹 哲史 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2003/12/01
Vol. J86-D1  No. 12 ; pp. 872-883
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
遅延故障テスト生成不連続再収斂構造時間展開モデル部分拡張スキャン設計
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