キーワード : 歩留り


パイプラインプロセッサにおけるカスケードTMRの歩留りと欠陥レベルの解析手法
新井 雅之 岩崎 一彦 
誌名:   
発行日: 2018/10/01
Vol. J101-D  No. 10 ; pp. 1462-1465
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
カスケードTMRテストエスケープ歩留り欠陥レベルパイプラインプロセッサ
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ウェーハ積層を用いた三次元高集積化技術
大場 隆之 前田 展秀 北田 秀樹 藤本 興治 川合 章仁 荒井 一尚 鈴木 浩助 中村 友二 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2010/11/01
Vol. J93-C  No. 11 ; pp. 464-476
論文種別:  特集論文 (先端電子デバイスパッケージと高密度実装における評価・解析技術論文特集)
専門分野: 
キーワード: 
三次元ウェーハ積層ワウ薄化TSV高集積化歩留り
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Critical AreaモデルによるLSIの歩留り解析
杉本 茂樹 中塚 晴夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2001/09/01
Vol. J84-C  No. 9 ; pp. 888-893
論文種別:  論文
専門分野: 半導体材料・デバイス
キーワード: 
Critical Area欠陥密度分布LSI歩留り
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周辺回路の歩留りを考慮したギガビットDRAMの最適冗長回路設計法
渡辺 重佳 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1999/11/25
Vol. J82-C2  No. 11 ; pp. 648-650
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
DRAM歩留り周辺回路スペア回路
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配線の信頼性を考慮したギガビットDRAMの設計法
渡辺 重佳 大内 和則 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1998/11/25
Vol. J81-C2  No. 11 ; pp. 865-871
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
ギガビットDRAM配線の信頼性歩留りワード線電源線
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WSI規模2次元FFTプロセッサの冗長化設計
金沢 正治 苫米地 宣裕 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1997/12/25
Vol. J80-D1  No. 12 ; pp. 963-970
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
2次元FFTWSI冗長化歩留り
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2次元サブシステム分割VLSIの歩留り特性
苫米地 宣裕 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1997/08/25
Vol. J80-D1  No. 8 ; pp. 718-724
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
2次元サブシステム分割VLSI冗長歩留り
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冗長化VLSIの歩留りに対する冗長配線と切換スイッチのハードウェア量の影響
苫米地 宣裕 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1997/04/25
Vol. J80-D1  No. 4 ; pp. 395-403
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
VLSI冗長歩留り冗長配線切換スイッチ
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冗長化WSIシステムの歩留り評価指標
苫米地 宣裕 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1995/03/25
Vol. J78-D1  No. 3 ; pp. 383-392
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
WSI冗長化歩留り評価指標チップ拡大率
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単一誤り訂正リードソロモン符号を用いた自己修復可能なマスクROM構成法
岩崎 一彦 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1992/12/25
Vol. J75-D1  No. 12 ; pp. 1154-1156
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
欠陥救済歩留りマスクROMリードソロモン符号自己修復
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