キーワード : 欠陥


液晶ディスプレイ用ポリシリコン薄膜のラマン分光
北原 邦紀 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2004/06/01
Vol. J87-C  No. 6 ; pp. 503-513
論文種別:  解説論文
専門分野: 
キーワード: 
ポリシリコンラマン欠陥応力評価
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ラマン分光を用いたTFT-LCD用ポリシリコンの評価
北原 邦紀 野木 博行  亮介 長友 正文 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2002/08/01
Vol. J85-C  No. 8 ; pp. 651-658
論文種別:  特集論文 (低温または高温多結晶Siとアクティブマトリックス型ディスプレイ用薄膜トランジスタ論文特集)
専門分野: 
キーワード: 
液晶ディスプレイポリシリコンラマン欠陥応力
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自己組織化マップハードウェアのフォールトトレランス評価
安永 守利 八谷 一平 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/02/25
Vol. J82-D1  No. 2 ; pp. 410-424
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
ニューラルネットワーク自己組織化マップフォールトトレランス欠陥WSI
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組合せ回路における論理故障のシミュレーションに基づく一診断法
山田 輝彦 山崎 浩二 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12 ; pp. 1123-1130
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 故障診断
キーワード: 
組合せ回路欠陥論理故障故障診断
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WSIを用いた自己組織化マップのフォールトトレランス
安永 守利 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1995/12/25
Vol. J78-D1  No. 12 ; pp. 960-971
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
ウェーハスケール集積回路WSIフォールトトレランス自己組織化マップニューラルネットワーク欠陥
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ウェーハスケール集積回路による遺伝的アルゴリズムのハードウェア化―WSIのLDA(Leaving Defects Alone)アプローチ―
安永 守利 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1994/02/25
Vol. J77-D1  No. 2 ; pp. 141-148
論文種別:  特集論文 (ウェーハスケール集積システム論文小特集)
専門分野: プロセッサ
キーワード: 
遺伝的アルゴリズムWSI集積回路欠陥フォールトトレランス
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ニューラルネットワーク集積回路の自律的な欠陥救済能力
安永 守利 浅井 光男 柴田 克成 山田 稔 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1992/11/25
Vol. J75-D1  No. 11 ; pp. 1099-1108
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
ニューラルネットワークWSI集積回路欠陥学習
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