キーワード : 検査


LSIテスティングの最近の動向
中前 幸治 藤岡 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2003/02/01
Vol. J86-C  No. 2 ; pp. 103-114
論文種別:  解説論文
専門分野: 
キーワード: 
LSIテスティング検査評価故障診断故障解析
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微分極性比較法によるLSIウェーハ多層パターンの自動外観検査
前田 俊二 広井 高志 窪田 仁志 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/01/25
Vol. J82-D2  No. 1 ; pp. 39-52
論文種別:  論文
専門分野: 画像処理,画像パターン認識
キーワード: 
LSI検査マッチング
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品質評価のためのビジュアルシミュレーションによる真珠の表現
長田 典子 宇佐美 照夫 眞鍋 佳嗣 井口 征士 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1997/01/25
Vol. J80-D2  No. 1 ; pp. 206-214
論文種別:  論文
専門分野: コンピュータグラフィックス(CG)
キーワード: 
CG検査品質評価物理モデル多層薄膜干渉テクスチャマッピング心理評価真珠
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清酒リサイクル瓶の不鮮明文字と欠陥の識別
 敬 谷口 敏幸 西田 眞 大倉 潤 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1995/07/25
Vol. J78-D2  No. 7 ; pp. 1058-1070
論文種別:  論文
専門分野: 画像・パターン認識,コンピュータビジョン
キーワード: 
検査酒瓶画像処理不鮮明文字
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