キーワード : 時間展開モデル


部分スルー可検査性に基づく順序回路のテスト生成法
岡 伸也 Chia Yee OOI 市原 英行 井上 智生 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2009/12/01
Vol. J92-D  No. 12 ; pp. 2207-2216
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
スルー可検査性無閉路可検査性テスト容易化設計時間展開モデル組合せテスト生成アルゴリズム
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不連続再収斂順序回路の遅延故障に対するテスト生成法
岩垣 剛 大竹 哲史 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2003/12/01
Vol. J86-D1  No. 12 ; pp. 872-883
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
遅延故障テスト生成不連続再収斂構造時間展開モデル部分拡張スキャン設計
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時間展開モデルを用いた無閉路順序回路のテスト系列圧縮方法
細川 利典 井上 智生 平岡 敏洋 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7 ; pp. 869-878
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト生成および圧縮
キーワード: 
時間展開モデル無閉路順序回路テスト系列圧縮テンプレート逆変換故障シミュレーション
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