キーワード : 故障解析


高周波SiPの設計と評価・解析技術
友景 肇 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2006/11/01
Vol. J89-C  No. 11 ; pp. 751-760
論文種別:  招待論文 (次世代電子機器における先端実装技術と電磁波ノイズ低減技術論文特集)
専門分野: 
キーワード: 
System-in-a-Package統合設計高周波特性基板評価故障解析
 あらまし | 本文:PDF(1.2MB)

LSIテスティングの最近の動向
中前 幸治 藤岡 弘 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2003/02/01
Vol. J86-C  No. 2 ; pp. 103-114
論文種別:  解説論文
専門分野: 
キーワード: 
LSIテスティング検査評価故障診断故障解析
 あらまし | 本文:PDF(675.2KB)

発光・発熱解析支援のための故障検証シミュレーション
久慈 憲夫 竹田 忠雄 中村 信二 小峰 行雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12 ; pp. 1151-1161
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 電子ビームテスト
キーワード: 
発光観測発熱解析故障解析論理故障モデル論理シミュレーションリーク故障
 あらまし | 本文:PDF(728.3KB)