キーワード : 不連続再収斂構造


不連続再収斂順序回路の遅延故障に対するテスト生成法
岩垣 剛 大竹 哲史 藤原 秀雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2003/12/01
Vol. J86-D1  No. 12 ; pp. 872-883
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
遅延故障テスト生成不連続再収斂構造時間展開モデル部分拡張スキャン設計
 あらまし | 本文:PDF(275.6KB)