キーワード : ランダムパターン検出困難故障


トランジション故障を検出するBIST指向テストパターン発生回路
浅川 毅 岩崎 一彦 梶原 誠司 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2001/02/01
Vol. J84-D1  No. 2 ; pp. 165-172
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
BISTトランジション故障ランダムパターン検出困難故障ATPGベクトル実動作速度テスト
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ATPGベクトルを利用したBIST用テストパターン発生回路
浅川 毅 岩崎 一彦 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2000/03/25
Vol. J83-D1  No. 3 ; pp. 360-367
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
TPG分割シフトランダムパターン検出困難故障ATPGベクトル実動作速度テスト
 あらまし | 本文:PDF(410.9KB)