キーワード : ランダムテスト


部分2重化とIDDQテストによる論理回路のランダムテスト容易化手法
横山 洋之 温 暁青 玉本 英夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1998/06/25
Vol. J81-D1  No. 6 ; pp. 851-860
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
テスト容易化設計ランダムテスト回路部分2重化組込みテストIDDQテスト
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重み付きランダムテストのための3値重み集合生成法
高松 雄三 小川 統生 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1997/07/25
Vol. J80-D1  No. 7 ; pp. 635-643
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
ランダムテスト検出困難な故障重み付きランダムテスト重み集合交差
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