キーワード : テスト

バンダリスキャンテスト実行時のIC内部の擾乱
亀山　修一 馬場　雅之 樋上　喜信 高橋　寛 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2013/09/01
Vol. J96-D  No. 9 ; pp. 2078-2081
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
バウンダリスキャン, 1149.1, テスト, 相互接続テスト, 内部擾乱, 
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命令セットシミュレータの実行制御機構を用いたマルチプロセッサRTOSのテスト効率化手法
一場　利幸 森　孝夫 高瀬　英希 鴫原　一人 本田　晋也 高田　広章 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2012/03/01
Vol. J95-D  No. 3 ; pp. 387-399
論文種別:  特集論文 (学生論文特集)
専門分野: ソフトウェアシステム
キーワード: 
マルチプロセッサ, リアルタイムOS, テスト, シミュレータ, 
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広範な実用Cプログラムに適用可能かつ高精度な動的境界検査ツール
荒堀　喜貴 権藤　克彦 前島　英雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2010/10/01
Vol. J93-D  No. 10 ; pp. 1851-1865
論文種別:  特集論文 (システム開発論文特集)
専門分野: ソフトウェア開発支援
キーワード: 
ソフトウェア工学, ソフトウェア開発環境, テスト, デバッグ, 
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差分によるVLSI回路の遅延測定
田辺　融 加藤　健太郎 難波　一輝 伊藤　秀男 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2010/04/01
Vol. J93-D  No. 4 ; pp. 460-468
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
VLSI, 遅延故障, テスト, 微小遅延欠陥, 測定, 
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カラーペトリネットを用いた仕様記述からのテストケース生成方法
渡辺　晴美 工藤　知宏 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 A
発行日: 1997/07/25
Vol. J80-A  No. 7 ; pp. 1073-1086
論文種別:  特集論文 (コンカレント・コラボレーション技術論文小特集)
専門分野: 
キーワード: 
テスト, テストケース生成法, ペトリネット, カラーペトリネット, 並行システム, 
 あらまし | 本文:PDF(915KB)
通信ソフトウェアのテストにおけるMSCで記述された要求仕様のペトリネットを利用した意味検証と充足検証の方法
加藤　尚玄 繁田　好章 田中　亘 長谷川　晴朗 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 A
発行日: 1997/07/25
Vol. J80-A  No. 7 ; pp. 1087-1103
論文種別:  特集論文 (コンカレント・コラボレーション技術論文小特集)
専門分野: 
キーワード: 
MSC, ペトリネット, テスト, 通信ソフトウェア, 仕様検証, 
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Quasi-Delay-Insensitive論理回路の縮退故障テスト
アーティット　トンタック 南谷　崇 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1997/02/25
Vol. J80-D1  No. 2 ; pp. 146-154
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
quasi-delay-insensitive論理回路, 縮退故障, テスト, 論理シミュレーション, 
 あらまし | 本文:PDF(662.3KB)
フラグスキャンレジスタを用いた内臓RAMテスト
前野　秀史 岩出　秀平 茅野　晋平 阪尾　正義 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 A
発行日: 1993/12/25
Vol. J76-A  No. 12 ; pp. 1761-1768
論文種別:  論文
専門分野: VLSI設計技術
キーワード: 
テスト, 内蔵RAM, スキャン設計, LSI, 
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自信-正誤反応における項目応答理論の提案
永岡　慶三 植野　真臣 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 A
発行日: 1992/02/25
Vol. J75-A  No. 2 ; pp. 407-413
論文種別:  特集論文 (電子情報通信技術と教育論文特集)
専門分野: 教授設計モデル・教育評価
キーワード: 
CMI, テスト, 自信度, 項目応答理論, 
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