キーワード : テスト発生回路


並列Generalized-LFSRを用いた自己組込みテスト
東 裕貴 範 公可 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 A
発行日: 2004/09/01
Vol. J87-A  No. 9 ; pp. 1252-1253
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
自己組込みテストBISTテスト発生回路LFSRGLFSR
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