キーワード : シールド性能測定


マイクロ波帯のシールドボックス性能測定法
三浦 健史 西堀 俊幸 稲谷 順司 瀬田 益道 真鍋 武嗣 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 B
発行日: 2003/07/01
Vol. J86-B  No. 7 ; pp. 1081-1088
論文種別:  特集論文 (最新のEMC技術論文特集)
専門分野: EMC計測
キーワード: 
マイクロ波シールドボックスシールド性能測定マルチパス干渉
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