キーワード : アバランシ耐量


U溝自己整合形パワーMOSFET(US-DMOS)の提案と評価
森川 正敏 小林 正義 福田 隆 藤田 譲 吉田 功 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1992/02/25
Vol. J75-C2  No. 2 ; pp. 85-91
論文種別:  論文
専門分野: 半導体材料・デバイス
キーワード: 
オン抵抗アバランシ耐量パワーMOSFET自己整合U溝
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