W.ニーベンディック


ガン効果ディジタルデバイス電流-電圧特性の直流バイアス異常現象
谷本 正幸 鈴木 幸治 伊東 朋弘 柳井 久義 L.M.F.カウフマン W.ニーベンディック K.ハイメ 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1977/11/25
Vol. J60-C  No. 11  pp. 698-705
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(662.3KB)