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K.ハイメ
ガン効果ディジタルデバイス電流-電圧特性の直流バイアス異常現象
谷本 正幸
鈴木 幸治
伊東 朋弘
柳井 久義
L.M.F.カウフマン
W.ニーベンディック
K.ハイメ
誌名:
電子情報通信学会論文誌 C
発行日:
1977/11/25
Vol.
J60-C
No.
11
pp.
698-705
論文種別:
論文
専門分野:
キーワード:
あらまし
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