黒木 幸令


チップスタック型マルチチップ実装におけるMOSFETの移動度の変動について
池田 晃裕 浜口 淳 小木 博志 岩崎 一也 服部 励治 黒木 幸令 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2005/11/01
Vol. J88-C  No. 11  pp. 866-873
論文種別:  特集論文 (先端電子デバイス実装技術と解析・評価技術の最新動向論文特集)
専門分野: SiP応力解析技術
キーワード: 
三次元実装応力塑性変形MOSFET移動度
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