西村 安正


VLSIメモリの評価用試験プログラム構造およびその適用
浜田 光洋 西村 安正 多田 哲生 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1991/11/25
Vol. J74-C2  No. 11  pp. 755-762
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
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高速MOSスタティックRAMのアドレスアクセス時間測定法
西村 安正 新納 充貴 田中 浩司 浜田 光洋 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1990/12/25
Vol. J73-C2  No. 12  pp. 859-866
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
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高速MOSスタティックRAMのチップセレクトアクセス時間測定法
西村 安正 田中 浩司 一瀬 勝樹 中野 隆生 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1989/10/25
Vol. J72-C2  No. 10  pp. 934-942
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
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大容量DRAMのテスト効率化のためのオンチップマルチビットテスト機能
日高 秀人 藤島 一康 熊野谷 正樹 宮武 秀司 堂阪 勝己 西村 安正 吉原 務 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1987/10/25
Vol. J70-C  No. 10  pp. 1391-1398
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
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