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大容量DRAMのテスト効率化のためのオンチップマルチビットテスト機能
日高 秀人 藤島 一康 熊野谷 正樹 宮武 秀司 堂阪 勝己 西村 安正 吉原 務 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1987/10/25
Vol. J70-C
No. 10
pp. 1391-1398
論文種別:
論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(760.3KB) | |
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高集積ダイナミックRAMのビット線容量の測定
小西 康弘 藤島 一康 吉原 務 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1986/12/25
Vol. J69-C
No. 12
pp. 1560-1562
論文種別:
レター
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(228.1KB) | |
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64 KbitダイナミックRAMにおけるビット線構造
尾崎 英之 下酉 和博 藤島 一康 中野 隆生 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1981/11/25
Vol. J64-C
No. 11
pp. 777-784
論文種別:
論文
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(613.7KB) | |
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ダイナミックMOS RAMの内部基板電圧発生回路
下酉 和博 藤島 一康 益子 耕一郎 山田 通裕 中野 隆生 | 誌名: 電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1981/11/25
Vol. J64-C
No. 11
pp. 769-776
論文種別:
論文
専門分野:
キーワード:
| | | あらまし | 本文:PDF(649.8KB) | |
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