福川 幸夫


インパットダイオードの信頼度要因とそのダイヤモンドによる改善
山本 実 篠田 政一 遠山 嘉一 福川 幸夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1976/03/25
Vol. J59-C  No. 3  pp. 163-169
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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ショットキー障壁GaAs FETのスイッチング特性
土屋 真平 篠田 政一 福川 幸夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1975/10/25
Vol. J58-C  No. 10  pp. 627-629
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
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FETの利得雑音特性に対する寄生素子の影響
土屋 真平 篠田 政一 福川 幸夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1975/10/25
Vol. J58-C  No. 10  pp. 629-630
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
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ミリ波インパットダイオードの広帯域特性
平地 康剛 遠山 嘉一 篠田 政一 福川 幸夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1974/06/25
Vol. J57-C  No. 6  pp. 204-206
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
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なだれ走行時間ダイオードにおける直列抵抗および熱抵抗の影響
篠田 政一 山本 実 福川 幸夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 1970/02/25
Vol. J53-C  No. 2  pp. 127-128
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
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