石原 隆子


EBテストパッド配置比率の向上手法
久慈 憲夫 石原 隆子 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 C
発行日: 2002/04/01
Vol. J85-C  No. 4  pp. 293-299
論文種別:  論文
専門分野: 集積エレクトロニクス
キーワード: 
配線多層化電子ビームテスタテストパッド階段型ビア観測性
 あらまし | 本文:PDF(1.2MB)

同期形高速SRAMマクロセルの性能評価法-テストチップの設計とLSIテスタによる評価-
柴田 信太郎 石原 隆子 藤岡 順一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1171-1184
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: メモリテスト
キーワード: 
LSI試験評価高速テスタSRAMマクロセル
 あらまし | 本文:PDF(916.2KB)