畠山　一実

多種クロックをもつ論理回路の決定性組込みテスト
中尾　教伸 佐藤　康夫 畠山　一実 福本　聡 岩崎　一彦 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2003/04/01
Vol. J86-D1  No. 4  pp. 248-259
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
実動作速度テスト, 多種クロック, 遷移故障, テスト生成, リシード法, 
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BIST向け検査点挿入方式における遅延・面積オーバヘッドの低減
中尾　教伸 小林　誠治 畠山　一実 飯島　一彦 寺田　聖二 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/07/25
Vol. J82-D1  No. 7  pp. 852-860
論文種別:  特集論文 (テストと設計検証論文特集)
専門分野: テスト容易化設計
キーワード: 
検査点, BIST, テスタビリティ, 最適化, 反復改善法, 
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実数値シミュレーションに基づく順序回路用並列テスト生成システムDESCARTESの故障並列に関する評価
伊達　博 中尾　教伸 畠山　一実 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 A
発行日: 1996/01/25
Vol. J79-A  No. 1  pp. 47-56
論文種別:  論文
専門分野: VLSI設計技術とCAD
キーワード: 
テスト生成, 順序回路, 実数値シミュレーション, 並列処理, 
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実数値シミュレーションを利用した順序回路テスト生成
彦根　和文 池田　光二 畠山　一実 林　照峯 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1992/11/25
Vol. J75-D1  No. 11  pp. 1089-1098
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
順序回路, テストパターン, テスト生成, シミュレーション, 最適化手法, 
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