玉本 英夫


学習者中心のインタラクティブ舞踊学習支援システムの開発
柴田 傑 玉本 英夫 松本 奈緒 三浦 武 横山 洋之 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2014/05/01
Vol. J97-D  No. 5  pp. 1014-1023
論文種別:  論文
専門分野: ヒューマンコンピュータインタラクション
キーワード: 
モーションキャプチャ学習支援インタラクション舞踊
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セキュアスキャン設計のためのシフトレジスタ等価回路の列挙と合成
藤原 克哉 藤原 秀雄 オビエン マリー エンジェリン 玉本 英夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2010/11/01
Vol. J93-D  No. 11  pp. 2426-2436
論文種別:  論文
専門分野: ディペンダブルコンピューティング
キーワード: 
テスト容易化設計セキュアスキャンシフトレジスタ機能等価列挙
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LSIのテスト・診断技術論文小特集の発行にあたって
玉本 英夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2005/06/01
Vol. J88-D1  No. 6  pp. 1001-1002
論文種別:  巻頭言
専門分野: 
キーワード: 
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中間故障電圧値を扱う故障シミュレーションの高速化について
温 暁青 梶原 誠司 玉本 英夫 ケワール K. サルージャ 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 2005/04/01
Vol. J88-D1  No. 4  pp. 906-907
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
トランジスタ短絡故障ケースシミュレーション中間故障電圧しきい値電圧
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デュアルポートRAMにおける 2 重カップリング故障の組込みテスト手法
横山 洋之 玉本 英夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1999/02/25
Vol. J82-D1  No. 2  pp. 450-453
論文種別:  レター
専門分野: 
キーワード: 
デュアルポートRAM2重カップリング故障組込みテスト
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部分2重化とIDDQテストによる論理回路のランダムテスト容易化手法
横山 洋之 温 暁青 玉本 英夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1998/06/25
Vol. J81-D1  No. 6  pp. 851-860
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
テスト容易化設計ランダムテスト回路部分2重化組込みテストIDDQテスト
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遺伝的アルゴリズムを用いた組込み型多重重み付けランダムテストの最適化手法
横山 洋之 玉本 英夫 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1083-1091
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: ランダムテスト
キーワード: 
重み付けランダムテスト疑似ランダムテストBIST遺伝的アルゴリズム
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トランジスタ短絡故障のIDDQテストベクトルの選択について
温 暁青 玉本 英夫 樹下 行三 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1996/12/25
Vol. J79-D1  No. 12  pp. 1113-1122
論文種別:  特集論文 (テスティング技術論文特集)
専門分野: 電流テスト
キーワード: 
CMOS回路IDDQテストトランジスタ短絡故障モデル等価故障解析IDDQテストベクトルの選択
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CMOS論理回路のランダムパターンによる組込み電流テスト
横山 洋之 玉本 英夫 成田 裕一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1993/10/25
Vol. J76-D1  No. 10  pp. 522-530
論文種別:  論文
専門分野: フォールトトレランス
キーワード: 
組込み電流テストCMOS論理回路ダイナミック電源電流ランダムパターンフィードバックパターンジェネレータ
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1ワード線上の複数個のセルの同時テストを可能にした半導体メモリの組込みテスト
三浦 幸也 玉本 英夫 成田 裕一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1987/06/25
Vol. J70-D  No. 6  pp. 1116-1125
論文種別:  論文
専門分野: 計算機システム・構成要素
キーワード: 
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アドレス系回路とデータ系回路を分離したICメモリの組込み検査方式
玉本 英夫 作左部 博朋 成田 裕一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1986/11/25
Vol. J69-D  No. 11  pp. 1556-1564
論文種別:  論文
専門分野: 計算機システム・構成要素
キーワード: 
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半導体メモリの機能検査に対する組み込み検査
三浦 幸也 玉本 英夫 成田 裕一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1986/10/25
Vol. J69-D  No. 10  pp. 1416-1423
論文種別:  論文
専門分野: 計算機システム・構成要素
キーワード: 
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状態の定常分布を用いた順序回路のランダムテスト法
玉本 英夫 高橋 淳 成田 裕一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1985/08/25
Vol. J68-D  No. 8  pp. 1537-1538
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
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ランダムテスト法における入力確率の一選定方法
玉本 英夫 成田 裕一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1982/08/25
Vol. J65-D  No. 8  pp. 1057-1064
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
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ランダム入力印加時の論理回路の故障検出確率の解析方法
玉本 英夫 成田 裕一 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1981/04/25
Vol. J64-D  No. 4  pp. 364-365
論文種別:  技術談話室
専門分野: 
キーワード: 
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故障検査容易なセルラアレイの一構成法
玉本 英夫 高羽 禎雄 
誌名:   電子情報通信学会論文誌 D
発行日: 1976/10/25
Vol. J59-D  No. 10  pp. 733-740
論文種別:  論文
専門分野: 
キーワード: 
 あらまし | 本文:PDF(662.2KB)